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探究影像测量机QV PRO高通量测量的奥义

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探究影像测量机QV PRO高通量测量的奥义

Mitutoyo三丰量仪量具 2023-05-10 17:42 发表于天津

技术革新和产业结构的发展日益加速，三丰新一代CNC影像测量机Quick Vision Pro，对观察装置、照明单元等进行了强劲升级，将测量效率以往提高了约40%，致力于为用户提供更为高效和更为精准的非接触测量解决方案。

快！更快！Quick Vision Pro惊人的高通量测量，出类拔萃。今天和您简单聊一聊Quick Vision Pro得以实现高通量测量的几个核心“奥义”。

奥义1：StrobeSnap频闪快拍

Quick Vision Pro搭载了最新的数码相机和频闪照明模式，在提高画面分辨率的同时，通过新开发的“StrobeSnap”频闪快拍功能，无论测量位置是否有连续性，对于大多数测量样品，测量时间可以缩短约35～45％，从而真正实现高通量测量和高精度测量。
此外，工件测量程序兼容性高，简单操作即可创建高速测量的工件测量程序。在PC画面上显示光学镜头捕获到的放大影像，可利用边缘检测及自动对焦等多种功能测量尺寸（标配功能）。

奥义2： STREAM无停顿测量

STREAM飞测模式（选配）则进一步开挂，高效测量发挥到了极致。通过全程匀速移动和频闪照明的精确同步，从而实现无停顿测量，可达到普通测量模式的5倍效率。为半导体、3C电子等有着高效测量需求的行业提供强有力的助力。
在上图的测量示意所示的连续要素测量中，测量时间可比StrobeSnap还要更短。Quick Vision Pro（包括HYPER机型）均可通过选件升级STREAM功能。

奥义3： TAF激光自动追踪

测量工件表面有翘曲，或者高度变化不大的阶差时，可以使用TAF激光自动追踪功能来提升测量效率。

它的工作原理是通过物镜中的同轴激光进行自动对焦，使Z轴实时追踪到被测物的高度变化，自动进行高度调整，以保证对焦清晰。

相较于普通的先对焦再测量的模式，TAF功能可以在不反复对焦的情况下实现连续快速测量，大幅缩短测量时间，即使在不同被测面之间存在间隙的情况下也可以实现。

再结合上述StrobeSnap功能及STREAM功能，测量效率可以得到进一步飞跃。

奥义4： 高效的自动对焦
需要快速准确的位置测量时，Quick Vision Pro高效的自动对焦功能可为您节省大量的工时。该功能支持在各种条件下进行高精度、高速度的高度测量，无论是表面高度测量还是边缘对焦，甚至是多点同时对焦，都能够轻松对应。

即使是电子半导体部件中广泛应用的玻璃表面、薄膜表面、镜面加工等对比度很低的表面，也可通过投射光路内配置的图案进行自动对焦。

可任意设定多个对焦位置和大小、角度。1次调焦动作可获得多个点的高度信息，实现高效的高度测量及平面度测量。

测量镜面亦或是粗糙面（如机械加工面、塑料成型品等），超快的自动对焦速度，比以往机型提高了约30%，轻松实现高通量测量。

此外，QUICK VISION Pro拥有丰富的产品线，通过组合物镜、触发式测头、软件(QVPAK)以及各种选配传感器，满足多样化的测量需求。

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